納米位移臺在掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）中都是一種關鍵的裝置，用于在微觀和納米尺度上對樣品進行定位、操作和觀察。以下是它們在這兩種電子顯微鏡中的主要作用：
掃描電鏡中的納米位移臺：
樣品定位： 納米位移臺允許對樣品進行高精度的位置調整，確保所要觀察的區域位于電子束的焦點位置。
三維掃描： 通過控制納米位移臺的運動，可以實現對樣品表面的三維掃描，獲取更全的信息。
表面形貌研究： 可以在納米尺度上對樣品表面的形貌進行詳細觀察和測量。
透射電鏡中的納米位移臺：
樣品定位和旋轉： 納米位移臺允許對樣品進行微小的位移和旋轉，以便在不同方向上觀察樣品的不同部分。
納米級精度： 在透射電鏡中，對樣品的準確定位至關重要，尤其是在進行高分辨率的成像和分析時。
納米尺度的操控： 一些先進的納米位移臺還可以用于對樣品進行納米尺度的操控，例如在納米加工或納米裝置的制備中。
納米位移臺的引入使得電子顯微鏡能夠更準確地研究和操控樣品，為納米科學和納米技術的發展提供了有力工具。
以上就是卓聚科技小編分享的納米位移臺在掃描電鏡和透射電鏡中的作用。更多位移臺產品及價格請咨詢