納米位移臺的噪聲不僅是“聲音上的噪音”，更重要的是 機(jī)械振動和電噪聲，會直接或間接影響實驗精度。主要體現(xiàn)在以下幾個方面：
1. 對定位精度的影響
噪聲往往伴隨微小振動，會導(dǎo)致位移臺產(chǎn)生隨機(jī)的位移抖動。
在要求納米級分辨率的實驗中，即使幾個納米的抖動也會造成明顯誤差。
2. 對成像和測量的影響
在掃描電鏡（SEM）、原子力顯微鏡（AFM）等實驗中，臺子振動會使圖像模糊或產(chǎn)生偽影。
光學(xué)實驗（如干涉測量、顯微成像）中，噪聲會降低圖像清晰度和對比度。
3. 對重復(fù)性和穩(wěn)定性的影響
噪聲帶來的隨機(jī)位移，使同一位置的重復(fù)測量結(jié)果存在偏差，降低實驗可重復(fù)性。
長時間實驗時，噪聲積累會加大漂移和誤差。
4. 對控制系統(tǒng)的影響
電噪聲可能干擾閉環(huán)傳感器的信號，使控制器無法正確判斷位置。
在高靈敏度控制中，噪聲會放大滯回、非線性和漂移問題。